MultiLane較新推出100G、400G光模塊測(cè)試應(yīng)用

“光示波器ML4015D” 

具備性能、高性價(jià)比

高速測(cè)試儀表制造商 MultiLane 公司日前在美國(guó)加州弗里蒙特正式發(fā)布了較新光示波器產(chǎn)品 ML4015D，工作帶寬高達(dá) 40 GHz ，非常匹配100Gb/s、400 Gb/s光模塊測(cè)試。

該款產(chǎn)品具有如下特點(diǎn)：

● 能夠處理高達(dá) 53.1 G 波特率信號(hào)。

● 支持行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，比如400GBASE-DR4/FR4/LR4和100G Lambda MSA。

● 可以靈活適配PAM4和NRZ 信號(hào)。

● 集成56 Gbaud PAM4信號(hào)時(shí)鐘恢復(fù)模塊，簡(jiǎn)化測(cè)試中的時(shí)鐘處理問(wèn)題。

光信號(hào)質(zhì)量測(cè)試一直是光模塊制造領(lǐng)域的瓶頸之一。MultiLane公司在開(kāi)發(fā)ML4015D的過(guò)程中，關(guān)注關(guān)鍵痛點(diǎn)，持續(xù)改進(jìn)提升，最終不負(fù)所望，于近日，正式向市場(chǎng)推出了這款具有高性價(jià)比的光示波器：

● 高性能：高靈敏度 (< -13 dBm @ 25.8 G NRZ)；低噪聲 (3 mW @ 26.6 GHz bandwidth)；測(cè)試速度快，支持100MHz采樣率, TDECQ測(cè)量時(shí)間<5s (以SSPRQ Pattern為例)

● 低成本：該款儀表定位高性價(jià)比產(chǎn)線測(cè)試，售價(jià)遠(yuǎn)低于同類產(chǎn)品，免費(fèi)提供全套分析控制軟件，測(cè)試速度快，較大降低光模塊產(chǎn)線測(cè)試成本

● 并行測(cè)試能力：ML4015D支持單通道/雙通道/四通道并行測(cè)試

● 支持多種速率：測(cè)量范圍涵蓋53.1 Gbaud PAM-4, 26.6 Gbaud PAM-4, 和 25.8 Gbps NRZ 等調(diào)制格式

● 滿足特殊測(cè)試需求：ML4015D可同時(shí)支持光采樣和電采樣輸入

● 小尺寸：儀表尺寸僅為8.9cm x 21.8cm x 30cm，節(jié)省產(chǎn)線測(cè)試工位空間。

ML4015D 光采樣示波器的發(fā)布，完善了MultiLane現(xiàn)有的基于BERT，互聯(lián)設(shè)備(評(píng)估板，環(huán)回模塊),和系統(tǒng)裕量測(cè)試儀等產(chǎn)品的光模塊測(cè)試解決方案。MultiLane已發(fā)布ML4039D和ML4079D, 分別對(duì)應(yīng)4通道和8通道28Gbaud PAM-4 BERT，這些BERT可以驅(qū)動(dòng)并測(cè)試光模塊和交換機(jī)的200G CAUI-4 和400G CAUI-8電接口性能。